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日本syscom液體、固體粘彈性測量裝置流變儀 NDS-1000 受歡迎的類型，緊湊，輕量，價格低廉 同時評估液體、各種凝膠、薄膜和固體材料的彈性和粘度！ 還可以選擇使用介電分析同時進行 DEA-DMA 測量。

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日本katsura全視場波前像差測量裝置全自動 AW-1000 這是一種可以全自動測量鏡頭光軸上和離軸波前像差的設(shè)備。

日本katsura自準直儀角度高精度測量裝置 MS-2000 該設(shè)備非常適合評估和檢查智能手機和其他設(shè)備中安裝的具有傳感器移位圖像穩(wěn)定功能的相機模塊執(zhí)行器。 通過使用特殊的專用目標，可以高精度地同時測量目標物體的六項：傾斜（θX，θY）、位移（Z）、位置（X，Y）和旋轉(zhuǎn)（θ）。

nisshooptical鹵素光源目視檢查測量儀日本 AFM-30 這是一種新型深度和高度測量裝置，結(jié)合了使用光切割的狹縫圖像觀察和使用聚光圖像的AF（自動對焦）跟蹤。 連續(xù)跟蹤自動對焦驅(qū)動可實現(xiàn)快速、易于使用的測量，并具有高重復(fù)性。 由于該方法在觀察狹縫圖像投影的臺階形狀的同時進行測量，因此可以實時識別測量屏幕上的高度，從而輕松確定需要測量的區(qū)域。

日本nisshooptical半導(dǎo)體激光器測量裝置 AFM-30 這是一種新型深度和高度測量裝置，結(jié)合了使用光切割的狹縫圖像觀察和使用聚光圖像的AF（自動對焦）跟蹤。 連續(xù)跟蹤自動對焦驅(qū)動可實現(xiàn)快速、易于使用的測量，并具有高重復(fù)性。 由于該方法在觀察狹縫圖像投影的臺階形狀的同時進行測量，因此可以實時識別測量屏幕上的高度，從而輕松確定需要測量的區(qū)域。

日商精光nisshooptical光學(xué)系統(tǒng)測量深高度 AFM-30 這是一種新型深度和高度測量裝置，結(jié)合了使用光切割的狹縫圖像觀察和使用聚光圖像的AF（自動對焦）跟蹤。 連續(xù)跟蹤自動對焦驅(qū)動可實現(xiàn)快速、易于使用的測量，并具有高重復(fù)性。 由于該方法在觀察狹縫圖像投影的臺階形狀的同時進行測量，因此可以實時識別測量屏幕上的高度，從而輕松確定需要測量的區(qū)域。