日本napson電阻率測試儀半導(dǎo)體/導(dǎo)電薄膜用 EC-80 特點介紹

非接觸渦流法電阻率和方電阻手動測量儀

一種簡單的測量裝置，只需將樣品放置在探頭之間即可進行測量。

在電阻率和方塊電阻測量模式之間輕松切換

使用 JOG 旋鈕輕松設(shè)置測量條件

測量目標(biāo)

半導(dǎo)體能電池材料相關(guān)（硅、多晶硅、SiC等）

新材料/功能材料相關(guān)（碳納米管、DLC、石墨烯、銀納米線等）

導(dǎo)電薄膜相關(guān)（金屬、ITO等）

化合物半導(dǎo)體相關(guān)（GaAs Epi、GaN Epi、InP、Ga等）

日本napson電阻率測試儀半導(dǎo)體/導(dǎo)電薄膜用 EC-80 規(guī)格參數(shù)

非接觸渦流法電阻率和方電阻手動測量儀

一種簡單的測量裝置，只需將樣品放置在探頭之間即可進行測量。

在電阻率和方塊電阻測量模式之間輕松切換

使用 JOG 旋鈕輕松設(shè)置測量條件

測量目標(biāo)

半導(dǎo)體能電池材料相關(guān)（硅、多晶硅、SiC等）

新材料/功能材料相關(guān)（碳納米管、DLC、石墨烯、銀納米線等）

導(dǎo)電薄膜相關(guān)（金屬、ITO等）

化合物半導(dǎo)體相關(guān)（GaAs Epi、GaN Epi、InP、Ga等）

非接觸渦流法電阻率和方電阻手動測量儀

一種簡單的測量裝置，只需將樣品放置在探頭之間即可進行測量。

在電阻率和方塊電阻測量模式之間輕松切換