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產(chǎn)品分類TECHNICAL ARTICLES
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日本toshinkogyo圖像分析位移測量蠕試驗機該裝置的測量裝置為非接觸式位移測量裝置,與傳統(tǒng)的光學(xué)或激光束方法不同,由高分辨率CCD相機直接捕捉被測物體的狀態(tài)變化,并進行高速處理由專用圖像處理計算機執(zhí)行,是一種位移測量裝置,可以在監(jiān)視器電視上觀察測量狀態(tài)的同時計算位移量并輸出位移量。
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日本toshinkogyo圖像分析位移測量蠕試驗機 特點介紹
該裝置的測量裝置為非接觸式位移測量裝置,與傳統(tǒng)的光學(xué)或激光束方法不同,由高分辨率CCD相機直接捕捉被測物體的狀態(tài)變化,
并進行高速處理由專用圖像處理計算機執(zhí)行,是一種位移測量裝置,可以在監(jiān)視器電視上觀察測量狀態(tài)的同時計算位移量并輸出位移量。
該測量裝置可用于多種用途,但它是專門為精密陶瓷等耐熱材料在超過1000℃高溫下的位移測量裝置而開發(fā)的。
1.與傳統(tǒng)的光學(xué)和激光束方法相比,測量精度更高。
2.一臺圖像處理裝置可測量三種位移(拉伸、彎曲、壓縮)。
日本toshinkogyo圖像分析位移測量蠕試驗機 規(guī)格參數(shù)
●測量方式:非接觸式/圖像分析法
●測量位置:樣品規(guī)之間或目標(biāo)位置
●測量范圍:0~6mm
●地標(biāo)間:10~30mm
●分辨率:1μm
●精度:±5μm
●采樣速度:10次/秒
●顯示方式:用監(jiān)視器進行樣品監(jiān)測,數(shù)字顯示測量值
●工作溫度:900℃至2000℃(900℃以下需背光)
●輸出:通訊接口:RS232C
該裝置的測量裝置為非接觸式位移測量裝置,與傳統(tǒng)的光學(xué)或激光束方法不同,由高分辨率CCD相機直接捕捉被測物體的狀態(tài)變化,
并進行高速處理由專用圖像處理計算機執(zhí)行,是一種位移測量裝置,可以在監(jiān)視器電視上觀察測量狀態(tài)的同時計算位移量并輸出位移量。
該測量裝置可用于多種用途,但它是專門為精密陶瓷等耐熱材料在超過1000℃高溫下的位移測量裝置而開發(fā)的。
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