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產(chǎn)品分類TECHNICAL ARTICLES
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日本rst-eng容量計1kHz電容計測量LED顯示屏 6651 1kHz 電容計 用于安裝薄膜電容器等的編帶裝置和分選裝置。 測量范圍:10.0pF至9.99μF 測量時間:25毫秒 比較結果:LED顯示、蜂鳴器 BCD碼輸出
2024-10-08
經(jīng)銷商
195
日本rst-eng容量計測量電容器電容值高精度 6062 貼片式電容器編帶機用高速高精度測量裝置 以 3 位數(shù)字 1/2 顯示測量值 測量范圍0~199.9μF 自動雜散校正功能:約18pF 積分時間:2毫秒 操作時間:約3毫秒
2024-10-08
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145
日本aandd內(nèi)置藍牙的數(shù)字糖度計糖含量濃度 AD-4771 ?測量范圍(Brix 值):0 至 55% ?通過藍牙通信與應用程序“A&D Brix Check”鏈接 ?可通過應用程序進行操作,并可保存測量數(shù)據(jù)的圖像
2024-10-08
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296
荷蘭Kipp Zonen日射計高速響應放射觀測量 Kipp & Zonen CMP-21 與 CMP11 相比,它的溫度依賴性更小。標準熱敏電阻傳感器(可選:Pt100Ω)監(jiān)控外殼溫度,每個設備都附有溫度依賴性數(shù)據(jù)和余弦特性數(shù)據(jù)。它用于科學研究,用于別的放射觀測網(wǎng)絡(BSRN)。
2024-10-08
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荷蘭Kipp Zonen全天空太陽總輻射測量熱量 Kipp & Zonen CMP-22 該傳感器使用石英圓頂并測量水平面上的總太陽輻射,它是直接太陽輻射和散射太陽輻射的組合。
2024-10-08
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日本進口Akion激光干涉儀6英寸測量玻璃金屬 AK-100ZF /AK-150ZF /AK-40ZF 非常適合測量玻璃、塑料、金屬等的平面形狀。 可以以 λ/20 的高精度測量和評估從小直徑到大直徑的拋光表面。
2024-10-08
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日本進口Akion激光光學干涉條紋分析裝置 IFM 通過高精度分析量化干涉條紋 通過利用激光干涉儀觀察到的干涉條紋圖像,對拋光表面的表面精度和光學元件的透射波前精度進行量化和可視化,從而獲得精度更高、更易于理解且有助于提高質(zhì)量控制的產(chǎn)品。
2024-10-08
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日本alnair-labs高精度波片光學測量儀器 Alnair Labs 偏振控制器 使用高精度波片的偏振控制器 模塊化型,可自由組合偏光片和波片
2024-10-08
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