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日本Toadkk便攜式離子計(jì)檢測(cè)儀帶背光功能 pH/ORP 纖薄設(shè)計(jì),易于握在手中 具有背光功能 省電設(shè)計(jì),也可使用充電電池 防水結(jié)構(gòu)(IP67:1 m,可浸泡 30 分鐘) 數(shù)據(jù)記憶功能(1500個(gè)數(shù)據(jù))
2024-10-11
經(jīng)銷商
289
日本toadkk面板式電導(dǎo)率儀用于半導(dǎo)體測(cè)量 WBM-100 緊湊的 DIN96 尺寸 微電腦計(jì)算溫度補(bǔ)償 具有細(xì)胞常數(shù)調(diào)節(jié)功能 可顯示水溫
2024-10-11
經(jīng)銷商
755
日本ceramic forum半導(dǎo)體分析裝置測(cè)量結(jié)晶 HERA FT1230 DLTS方法是一款高感度測(cè)量結(jié)晶缺陷導(dǎo)致的電子狀態(tài)的良好方法。 即便是內(nèi)在微小的雜質(zhì)或格子缺陷也會(huì)很大程度上影響半導(dǎo)體材料性能,所以此類測(cè)量非常重要。
2024-10-11
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232
日本ceramic forum晶片內(nèi)位錯(cuò)檢測(cè)儀便攜式 Crystalline Tester CS1 ”Crystalline Tester CS1”是非破壞性、非接觸式檢測(cè)可見(jiàn)光(波長(zhǎng)400~800nm)透明性晶體材料中由于殘留的缺陷、應(yīng)力引起的晶格畸變后分布情況的便捷式檢測(cè)設(shè)備。通過(guò)本設(shè)備可以實(shí)現(xiàn)快速、準(zhǔn)確地把握目檢下無(wú)法看到的晶體晶格畸變的狀態(tài)。
2024-10-11
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日本RikenKeiki光波干涉式氣體監(jiān)測(cè)儀高性能 FI-8000 ?一臺(tái)設(shè)備最多可測(cè)量 8 種氣體 ?兩種吸入方式可供選擇: 內(nèi)置泵自動(dòng)吸入型 / 手持式吸氣器手動(dòng) 吸入型 ?配備間歇測(cè)量模式(僅限自動(dòng)吸入型) 記錄濃度值和時(shí)間,可在主機(jī)上查看氣體濃度變化 - 易于閱讀的大液晶屏清晰 顯示 待測(cè)氣體類型、氣體濃度、測(cè)量單位和剩余電池電量
2024-10-11
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日本RikenKeiki便攜式多氣體監(jiān)測(cè)儀多功能 GX-6000 ?國(guó)內(nèi)制造商能夠用一臺(tái)設(shè)備同時(shí) 檢測(cè) ?適合根據(jù)工業(yè)安全衛(wèi)生法 檢查! ?可通過(guò)PID傳感器測(cè)量200種以上的目標(biāo)化學(xué)物質(zhì) ?可進(jìn)行多語(yǔ)言顯示(日語(yǔ)/英語(yǔ)/法語(yǔ)/西班牙語(yǔ)等) ?配備緊急警報(bào)功能和LED燈等方便的新功能
2024-10-11
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日本理研rikenkeiki智能型多氣體檢測(cè)裝置 GD-84D系列 ?將 4 個(gè)檢測(cè)器整合為 1 個(gè)單元,實(shí)現(xiàn)成本削減高達(dá) 1/4 ?采用高性能泵 ?配備智能自診斷功能 ?兼容以太網(wǎng) (PoE) [4-20mA 規(guī)格] GD-84D-EC , GD -84D 【ET規(guī)格】GD-84D-ET-EC、GD-84D-ET 【EA規(guī)格】GD-84D-EA-EC、GD-84D-EA
2024-10-11
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196
日本rikenkeiki理研便攜式四組分氣體檢測(cè)儀 GX-Force ?約 300g 的輕量化設(shè)計(jì),易于抓握的握把設(shè)計(jì) ?連續(xù)使用時(shí)間約 30 小時(shí) ?通過(guò) 3m 跌落測(cè)試 ?防爆防壓結(jié)構(gòu) ?相當(dāng)于 IP67 防護(hù)等級(jí)
2024-10-11
經(jīng)銷商
198
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