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產(chǎn)品展示/ Product display

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  • TYPE 25W/25WS日本HEIDON應(yīng)變測試儀明暗視野觀察檢查裝置

    日本HEIDON應(yīng)變測試儀明暗視野觀察檢查裝置 HEiDON/新東科學(xué) TYPE 25W/25WS TYPE:25W是采用正交尼科耳法的變形檢查裝置,擅長觀察塑料成型品的流動狀態(tài), 采用光偏轉(zhuǎn),照度高、視野寬,易于使用。采用變頻圓形熒光燈,閃爍少,不傷眼,長時間檢查也可放心使用。有效視場直徑達280mm,可以檢查大型標本或同時觀察多種類型的標本,便于比較和檢查。檢偏器(上偏光板:檢偏器)可旋轉(zhuǎn),

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    2024-10-12

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  • TYPE 25W/25WS日本HEIDON應(yīng)變測試儀光偏轉(zhuǎn)變形檢查裝置

    日本HEIDON應(yīng)變測試儀光偏轉(zhuǎn)變形檢查裝置 HEiDON/新東科學(xué) TYPE 25W/25WS TYPE:25W是采用正交尼科耳法的變形檢查裝置,擅長觀察塑料成型品的流動狀態(tài), 采用光偏轉(zhuǎn),照度高、視野寬,易于使用。采用變頻圓形熒光燈,閃爍少,不傷眼,長時間檢查也可放心使用。有效視場直徑達280mm,可以檢查大型標本或同時觀察多種類型的標本,便于比較和檢查。檢偏器(上偏光板:檢偏器)可旋轉(zhuǎn),

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    2024-10-12

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  • TYPE 40日本HEIDON摩擦磨損試驗機高精度測試測量儀

    日本HEIDON摩擦磨損試驗機高精度測試測量儀 HEiDON/新東科學(xué) TYPE 40 摩擦磨損試驗機新標準模型 Tribogear新一代標準模型誕生, 包括測量時可覆蓋的上拉式亞克力蓋和新開發(fā)的正交平衡臂系統(tǒng)。 標準配置Y方向載物臺,使測試更容易。 使用 Tribogear TYPE40 舒適地執(zhí)行摩擦和磨損測試,它更易于使用且更準確。

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    2024-10-12

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  • TYPE 22L/22H日本HEIDON表面特性測量機評估涂層附著力

    日本HEIDON表面特性測量機評估涂層附著力 HEiDON/新東科學(xué) TYPE 22L/22H 使用兩個脈沖電機同步移動測試平臺和連續(xù)重量導(dǎo)軌來評估涂層的附著力。 連續(xù)負載重量在刮針所附的臂上滾動,使得刮針隨著樣本移動成比例地增加垂直負載。 此外,刮擦針安裝部分內(nèi)置有檢測阻力的負載傳感器??梢灾苯訖z測低負荷區(qū)域的摩擦阻力、耐刮擦性、耐剝離性的微小變化。

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    2024-10-12

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  • TYPE 94i-II日本HEIDON便攜式摩擦磨損測試儀測量設(shè)備

    日本HEIDON便攜式摩擦磨損測試儀測量設(shè)備 HEiDON/新東科學(xué) TYPE 94i-II 任何人,任何地方。 Muse TYPE:94i-II 是一款便攜式測量設(shè)備,任何人都可以輕松測量物體之間的靜摩擦系數(shù)。 傳統(tǒng)上,靜摩擦是使用傾斜法和應(yīng)變儀來測量的,但由于這些方法是在實驗室等有限的空間內(nèi)使用,因此在現(xiàn)場的可操作性方面存在問題。

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    2024-10-12

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  • SH-70日本maruto-group軟巖貫入儀工地勘察測試儀

    日本maruto-group軟巖貫入儀工地勘察測試儀 SH-70 具有介于兩者之間的性質(zhì)的“軟巖”地面進行調(diào)查土壤和巖石,在不同地點的施工過程中發(fā)生了很多事情。 在針對此類地面的施工中,存在許多軟巖都有的問題,無法使用針對土壤和傳統(tǒng)硬巖獲得的知識和方法來解決。 該測試儀非常適合在軟巖地面的建筑工地進行控制測試。

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    2024-10-12

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  • AFM-30日本nisshooptical深度高度測量機鹵素光源

    日本nisshooptical深度高度測量機鹵素光源 AFM-30 這是一種新型深度和高度測量裝置,結(jié)合了使用光切割的狹縫圖像觀察和使用聚光圖像的AF(自動對焦)跟蹤。 連續(xù)跟蹤自動對焦驅(qū)動可實現(xiàn)快速、易于使用的測量,并具有高重復(fù)性。 由于該方法在觀察狹縫圖像投影的臺階形狀的同時進行測量,因此可以實時識別測量屏幕上的高度,從而輕松確定需要測量的區(qū)域。

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    2024-10-12

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  • AFM-30日本nisshooptical微米深度高度測量裝置

    日本nisshooptical微米深度高度測量裝置 AFM-30 這是一種新型深度和高度測量裝置,結(jié)合了使用光切割的狹縫圖像觀察和使用聚光圖像的AF(自動對焦)跟蹤。 連續(xù)跟蹤自動對焦驅(qū)動可實現(xiàn)快速、易于使用的測量,并具有高重復(fù)性。 由于該方法在觀察狹縫圖像投影的臺階形狀的同時進行測量,因此可以實時識別測量屏幕上的高度,從而輕松確定需要測量的區(qū)域。

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    2024-10-12

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